本文へ移動

広島市中小企業支援センター > メールマガジン > 2017年度 > 技術情報の提供

広島市産業振興センターNEWS

技術情報の提供(材料・加工技術室)

「不明物質の分析調査について」


 当センターへの相談内容の一つに、付着物や異物等の成分が不明な物質の分析調査があります。例えば、製品表面に付着したグリス状物質の分析や製品中に混入していた原料以外の物質の分析などが挙げられます。これらの物質を分析調査することにより、製品に付着・混入している物質がどのような成分であり、どのような経路で混入したのかを推定することが出来ます。

 しかし、初めて相談に来られる方には、試験や分析方法にはどのようなものがあって、原因究明のためには何を依頼すればよいか分からない方もおられます。そこで、今回はこのような物質の代表的な分析調査方法をまとめてみましたので、参考にして下さい。また、試料によっては出来ない試験や分析もありますので、まずはお気軽に御相談下さい。

 

【外観・形状観察】

 物質の形状や付着状態を確認する方法として、光学顕微鏡や電子顕微鏡での観察等があります。高倍率で観察することにより、肉眼では得られなかった多くの情報を得ることが出来ます。

 ●顕微鏡写真(3,240円/枚)
 ●電子顕微鏡写真(3,530円/枚) 等

光学顕微鏡
光学顕微鏡
【有機物の分析】
 樹脂等の高分子(ポリマー)をはじめとした有機物の情報を得る方法の一つとして、赤外分光分析があります。赤外分光分析により測定できる赤外吸収スペクトルは、物質固有の形状を示すため、疑わしい対照品と比較したり、構造を推定したりすることが出来ます。

 ●赤外分光分析(3,430円/試料) 等
赤外分光分析装置
赤外分光分析装置
【無機物の分析】
 金属をはじめとした無機物の情報を得る方法として、蛍光X線分析等があります。当センターの蛍光X線分析装置では、物質に含まれるナトリウムより軽い元素を除いた元素を同時測定することが可能です。また、数μm~数百μmの微少領域や非常に小さな物質の元素組成を測定する方法として、状態分析(電子線マイクロアナライザー)という方法もあります。なお、1 μmは0.001 mmのことです。

 ●蛍光X線分析(3,300円/試料)
 ●状態分析(7,230円/試料(視野)) 等
蛍光X線分析装置
蛍光X線分析装置




■問い合わせ先 技術振興部 材料・加工技術室(広島市工業技術センター内)

  TEL 082-242-4170(代表)  E-mail kougi@itc.city.hiroshima.jp

HOME

ページトップへ

本文へ移動

広島市中小企業支援センター > メールマガジン > 2017年度 > 技術情報の提供

広島市産業振興センターNEWS

技術情報の提供(材料・加工技術室)

「不明物質の分析調査について」


 当センターへの相談内容の一つに、付着物や異物等の成分が不明な物質の分析調査があります。例えば、製品表面に付着したグリス状物質の分析や製品中に混入していた原料以外の物質の分析などが挙げられます。これらの物質を分析調査することにより、製品に付着・混入している物質がどのような成分であり、どのような経路で混入したのかを推定することが出来ます。

 しかし、初めて相談に来られる方には、試験や分析方法にはどのようなものがあって、原因究明のためには何を依頼すればよいか分からない方もおられます。そこで、今回はこのような物質の代表的な分析調査方法をまとめてみましたので、参考にして下さい。また、試料によっては出来ない試験や分析もありますので、まずはお気軽に御相談下さい。

 

【外観・形状観察】

 物質の形状や付着状態を確認する方法として、光学顕微鏡や電子顕微鏡での観察等があります。高倍率で観察することにより、肉眼では得られなかった多くの情報を得ることが出来ます。

 ●顕微鏡写真(3,240円/枚)
 ●電子顕微鏡写真(3,530円/枚) 等

光学顕微鏡
光学顕微鏡
【有機物の分析】
 樹脂等の高分子(ポリマー)をはじめとした有機物の情報を得る方法の一つとして、赤外分光分析があります。赤外分光分析により測定できる赤外吸収スペクトルは、物質固有の形状を示すため、疑わしい対照品と比較したり、構造を推定したりすることが出来ます。

 ●赤外分光分析(3,430円/試料) 等
赤外分光分析装置
赤外分光分析装置
【無機物の分析】
 金属をはじめとした無機物の情報を得る方法として、蛍光X線分析等があります。当センターの蛍光X線分析装置では、物質に含まれるナトリウムより軽い元素を除いた元素を同時測定することが可能です。また、数μm~数百μmの微少領域や非常に小さな物質の元素組成を測定する方法として、状態分析(電子線マイクロアナライザー)という方法もあります。なお、1 μmは0.001 mmのことです。

 ●蛍光X線分析(3,300円/試料)
 ●状態分析(7,230円/試料(視野)) 等
蛍光X線分析装置
蛍光X線分析装置




■問い合わせ先 技術振興部 材料・加工技術室(広島市工業技術センター内)

  TEL 082-242-4170(代表)  E-mail kougi@itc.city.hiroshima.jp

HOME

ページトップへ